Conseguita la Laurea in Ingegneria Elettronica presso l’Università di Roma “La Sapienza” nel 1999, si è dottorato in Ingegneria delle Telecomunicazioni e Microelettronica presso l’Università di Roma “Tor Vergata” nel 2004. Dal 2003 al 2007 è stato visiting scholar e research associate presso la Northeastern University di Boston (USA). Nel 2006 è stato visiting research scholar presso i Sandia National Laboratories ad Albuquerque (USA). Nel 2007 gli è stata concessa la residenza permanente negli Stati Uniti (“green card”) con il prestigioso visto EB1 destinato agli “outstanding researchers”. Dal 2007 al 2009 è stato Senior Design Engineer presso la Advanced Micro Devices (AMD) di Boxborough (USA). Nel 2009 ha preso servizio all’università di Roma “Tor Vergata” come vincitore di una borsa “Rientro dei Cervelli”, dal 2014 è Professore Associato presso la stessa università. La sua ricerca è incentrata sull’affidabilità dei sistemi elettronici a scala nanometrica. Su questi argomenti ha pubblicato più di 100 contributi a congressi e riviste internazionali di cui è anche revisore e organizzatore. Dal 2011 al 2015 è stato coordinatore del progetto europeo COST IC1103 MEDIAN (Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale). Dal 2016 è Associate editor di IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing. È senior member di IEEE.
Received the Laurea degree (M.Sc.) in Electronic Engineering from the University of Rome "La Sapienza" in 1999 and the Ph.D. in Telecommunications and Microelectronics from the the University of Rome "Tor Vergata" in 2004. From 2003 to 2007 he was visiting scholar and research associate at Northeastern University in Boston (USA). In 2006 he was invited to Sandia National Laboratories in Albuquerque (USA) as a visiting research scholar. In 2007 he became a U.S. permanent resident through the prestigious EB1 visa intended for outstandanding researchers. From 2007 to 2009 he was with Advanced Micro Devices (AMD) in Boxborough (USA) as a Senior Design Engineer. Since 2009 he is at the University of Rome "Tor Vergata" as the recipient of a "Rientro dei Cervelli" (reverse brain drain) fellowship awarded by the Italian Ministry of University. His research focuses on reliability of electronic systems at nanoscale. On these topics he published over than 100 contributions to international conferences and peer reviewed journals, in which he serves also as organizer and reviewer. From 2011 to 2015 he has been the chair of the European project COST IC1103 MEDIAN (Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale). Since 2016 he is Associate Editor of IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing. He is senior member of IEEE.
a:0:{}" } ["meta_keywords"]=> array(1) { [0]=> string(1) "," } ["reserved"]=> array(1) { [0]=> string(1) "0" } ["auth_ip"]=> array(1) { [0]=> string(1) "0" } } ["_fieldBoosts":protected]=> array(6) { ["content_id"]=> bool(false) ["content_title"]=> bool(false) ["description"]=> bool(false) ["meta_keywords"]=> bool(false) ["reserved"]=> bool(false) ["auth_ip"]=> bool(false) } } }